Micsig RCP1200L-700 Rogowski-vaihtovirta-anturi 1200Apk/10MHz

Micsig RCP1200L-700 Rogowski -virtamittapäällä on 1200 Apk:n mittausalue ja max. 10 MHz:n kaistanleveys.

• Kaistanleveys: 6Hz – 10MHz
• Huippuvirta: 1200Apk
• Lähdön herkkyys: 5mV/A (200X)
• Huippu-di/dt: 70kA/μs
• Pysyvä poikkeama (droop): 5%/ms
• Lähtökohina: ＜ 12mVpp
• Lähdön tarkkuus: 2%
• Käämin eristysjännite max: 10 kVpk
• Käämin pituus: 700 mm
• Tuotepakettiin kuuluu:
  • RCP-sarjan mittapää
  • virtalähde
  • kantosalkku
  • kalibrointitodistus
  • pikaopas (EN)

RCP-sarjan virta-anturit koostuvat kahdesta osasta: integraattorista ja Rogowski-käämistä.

1 vuoden takuu.

RCP-sarjan ominaisuuksia:

Micsig RCP -sarjan Rogowski-virtamittapää mittaa jopa 12 000 Apk:n vaihtovirtoja ja tarjoaa enintään 30 MHz:n kaistanleveyden. Lähes nollan lisäysimpedanssin ansiosta mittapäiden häiriöt testattavassa piirissä minimoidaan. Käämien jännitevastus on korkea (jopa 10 kVpk). Käämin poikkileikkauksen halkaisijan, kehän ja johtimen pituuden mukauttaminen  monimutkaisiin sovellustilanteisiin mahdollista.

Mittapäässä on standardi BNC-liitäntä, jota voidaan käyttää minkä tahansa oskilloskoopin kanssa. Sen kompakti ja joustava rakenne ratkaisee helposti vaikeasti tavoitettavien osien ongelman.

1,6-8 mm:n ohut, joustava, kiinnitettävä Rogowski-käämi mittaa 2 %:n tarkkuudella (tyypillinen) tarkasti korkeataajuisia ja suurivirtaisia signaaleja.

Mittaa MOSFETin Id-virran

RCP:llä on erinomaiset suurtaajuiset mittausominaisuudet. Se käsittelee helposti nopeita signaaleja ja nopeasti muuttuvia virran aaltomuotoja, mikä auttaa tarkkailemaan korkeataajuisia harmonisia komponentteja MOSFETien Id-virtaa mitattaessa.

Pienin käämin poikkileikkaus

Käämin poikkileikkaushalkaisija on minimissään vain 1,6 mm, joten insinöörit voivat mitata virtaa piirin vaikeimmissa osissa.

Kompaktin joustava rakenne on ratkaisu helposti vaikeapääsyisten osien ongelmaan. 

BNC-liitäntä

Normaali BNC-liitäntä käytettäväksi missä tahansa oskilloskoopissa.

Sovellukset

● Virran mittaus moottoriohjauksessa ja erityisesti virranlaadun mittaukset VSD-, UPS- tai SMPS-piireissä
● Kaksoispulssitestaus, jolla mitataan SiC:n ja GaN:n kaltaisista materiaaleista valmistettujen MOSFET- ja IGBT-sirujen virtoja
● Tehoelektroniikassa kuormitusvirran ja korkean harmonisen virran mittaus
● Suurtaajuisten sinimuotoisten, pulssi- tai transienttivirtojen mittaus
● AC-virtojen mittaus 3-vaiheisessa syöttöjärjestelmässä
● Puolijohteiden tehonkulutuksen mittaaminen
● 50/60Hz tehotaajuusvirran mittaus
● Tehomuuntimen kehitys ja diagnostiikka

RCP-L-sarjan mallit: